VIP člen
Fluorescentní distribuovaný zobrazovací systém EEM View
Systém fluorescenčního distribuovaného zobrazování má zcela nový design, který umožňuje měřit a sledovat spektrální data vzorku. Pomocí algoritmu zpra
Detaily produktu
Fluorescentní distribuční zobrazovací systém EEM ® View
Systém fluorescenčního distribuovaného zobrazování má zcela nový design, který umožňuje měřit a sledovat spektrální data vzorku. Algoritmy pro spektrální zpracování obrazu pomocí AI*1Nejen, že můžete zobrazit fluorescenční obraz vzorku a odrazový obraz, ale také získat spektrální obraz různých oblastí.*1(fluorescenční spektrum, reflexní spektrum).
- *1
- Výpočetní systémy jsou výsledkem společného výzkumu profesora IMARI SATO z Národního institutu informatiky a přidruženého profesora Zheng Yinchang.
- *
- „EEM“ je registrovaná ochranná známka společnosti Hitachi High-Tech Science Corporation v Číně a Japonsku
-
Vlastnosti
-
Aplikační data
-
Indikátory
Vlastnosti
Co je EEM View?
Nová technologie umožňuje současný přístup k fluorescenčním a reflexním obrazům a spektrum
- Spektrální údaje o měření vzorku (reflexní spektroskopie, fluorescenční spektroskopie)
- Snímání vzorků za různých světelných podmínek (bílé a jednobarevné)
(Oblast: Φ20 mm, rozsah vlnových délek: 380 až 700 nm) - Použití algoritmů spektrálního zpracování obrazu AI＊1Schopnost zobrazovat vzorkové fluorescenční obrazy a odrazové obrazy
- Získání spektrálních informací o různých oblastech podle obrázku＊1(fluorescenční spektroskopie, reflexní spektroskopie)
- *1
- Výpočetní systémy jsou výsledkem společného výzkumu profesora IMARI SATO z Národního institutu informatiky a přidruženého profesora Zheng Yinchang
Rozhraní EEM View Analysis (vzorek: LED deska)
Přehled fluorescenčního distribuovaného zobrazovacího systému
Jednorodný světelný systém
Získejte také vzorky fluorescenčních · reflexních obrazů a spektrum!
- Integrální sférický odraz rovnoměrný zdroj světla
- Jednorodné osvětlení vzorků pomocí světla shromažďovaného s integrálními míčkami
- Režim dvojité detekce s fluorescenčním detektorem a CMOS kamerou
Nový fluorescenční distribuční zobrazovací systém může být nainstalován do skladu vzorků fluorescenčního spektrofotometru F-7100. Přicházející světlo je rovnoměrně zasíláno do vzorku po rozptýlení reflexe integrální koule, pomocí standardního fluorescenčního detektoru F-7100 lze získat fluorescenční spektrum vzorku, v kombinaci s fotoaparátem CMOS pod integrální koulí lze získat obraz vzorku a pomocí jedinečného algoritmu AI spektrálního zpracování obrazu lze získat zároveň reflexní a fluorescenční obraz.
Instalace vzorků je jednoduchá a vhodná pro různé testy vzorků!
Vzorky stačí umístit na míč bodů, instalace je velmi jednoduchá!
- Listový vzorek: Instalace vzorku prostřednictvím křemenného okna.
- Vzorky prášku: Vyplňte prášek do rovného držáku pro vzorky, umístěte ho do držáku pro vzorky prášku nebo nainstalujte vzorek pomocí držáku pro vzorky prášku pro pevné vzorky volitelného příslušenství.
- Při korekci je třeba umístit standardní vzorek fluorescence.
- Pro korekci použijte standardní tabulku (100 %) a prázdný vzorek (0 %). Tento korekční nástroj lze použít k korekci intenzity fluorescence, odrazovosti a rozdělení jasu v různých oblastech obrazu.
Aplikační data
Příklad použití: fluorescenční vlastnosti a strukturální potvrzení mikrostrukturálních materiálů
Pro zvýšení viditelnosti jsme měřili fluorescenční reflexy s jemnou strukturou.
Současný přístup k spektrálním datům a vzorkovým snímkům
Ozařte vzorek jednobarevným a bílým světlem v rozsahu 360 nm až 700 nm. V tomto případě je možné získat obraz za různých podmínek světelného zdroje a fluorescenční spektrum je možné získat pomocí fluorescenčního detektoru. Po dokončení měření lze zkontrolovat třírozměrné fluorescenční spektrum vzorku (vlnová délka excitace, vlnová délka emise, intenzita fluorescence). Ve speciálním analytickém softwaru lze obrázek zvětšit tak, aby bylo zobrazeno fluorescenční a reflexní spektrum různých oblastí. Proto je možné potvrdit reflexní a fluorescenční spektrum vzorků s nerovnoměrným rozdělením optických vlastností.
Výpočet a zobrazení spektra různých oblastí (fluorescence a reflexe)
Zobrazení odděleného obrazu (fluorescence · reflexe)
Oddělení snímků reflexních světelných složek od snímků fluorescenčních složek
Pomocí algoritmů spektrálního zpracování obrazu AI se snímky oddělují od odrazových světelných složek a fluorescenčních složek. V důsledku toho se obraz složky odráženého světla zobrazí oranžově a obraz složky fluorescence zeleně. Obě jsou v souladu s jednobarevným světlem reflexního spektra a fluorescenčního spektra. Vzorek je směsí oranžového reflexního světla a zelené fluorescence, takže je žlutý při bílém světle. Kromě toho jsou odráženými a fluorescenčními obrazy vidět rozdíly v optických vlastnostech (obrazové vzory) v různých oblastech vzorku. Po zvětšení obrazu lze vidět, že mikrostruktura reflexní desky má pravidelné intervaly s šířkou intervalu 200 μm.
Indikátory
Hlavní funkce
| Projekty | Obsah |
|---|---|
| Režim EEM View (měřicí model) |
Měření třírozměrného fluorescenčního spektra |
| Jednobarevný světelný obrázek | |
| Bílé světlo | |
| Náhled obrázku | |
| Zpracování dat | Zobrazit miniatury |
| Zobrazení třírozměrného fluorescenčního spektra (isometrie, gradient) | |
| Zobrazení excitačního/emisního spektra | |
| Zobrazit zvětšený obrázek | |
| Oddělení obrázku (1x1, 2x2, 3x3, 4x4, 5x5) | |
| Výpočet, zobrazení různých oblastí spektra (fluorescence, reflexe)*1 | |
| Zobrazení odděleného obrazu (fluorescence, reflexe)*1 |
- *1
- Výpočetní systémy jsou výsledkem společného výzkumu profesora IMARI SATO z Národního institutu informatiky a přidruženého profesora Zheng Yinchang
Specifikace
| Projekty | Obsah |
|---|---|
| Vlnová délka záření |
360 nm ～700 nm |
| Fotoaparát | Barevný (RGB) CMOS senzor |
| Rozhraní |
USB3.0 |
| Efektivní počet pixelů | 1920 × 1200（H×V） |
| Rozsah vlnných délek |
380 nm ～700 nm |
- *
- Hlavní specifikace tohoto příslušenství jsou navrženy na základě fluorescenčního spektrofotometru.
Příklad konfigurace
| Název | P/N (sériové číslo) |
|---|---|
| F-7100 fluorescenční spektrofotometr |
5J1-0042 |
| Příslušenství EEM View |
5J0-0570 |
| R928F fotomultiplikátor |
650-1246 |
| Podstandardní světelný zdroj |
5J0-0136 |
Aplikace
Uvádíme příklady měření spektrálního fluorescenčního fotometru (FL).
Přesné spektrometry fluorescenčního spektrofotometru
Uvedení metod nápravy rozdílů mezi zařízeními a odstranění rozptýleného světla.
Fluorescentní spektroskopie vzorků pevných hmot
Uveďte příklady fluorescenčního spektroskopického měření pomocí plazmatického monitoru s držitelem pevného vzorku (volitelné).
Vědecký kruh
Představujeme symbolický symbol Hitachi High-Tech Science Group, který se zaměřuje na lídry ve vědě a technologii.
Související produkty
-
Fluorescentní spektrofotometr F-7100
-
Fluorescentní spektrofotometr F-7000
Online dotaz
-
Kontakty
-
Společnost
-
Telefon
-
E-mail
-
WeChat
-
Ověřovací kód
-
Obsah zprávy
-