X-fluorescenční spektrometry řady EDX，Energetické rozptýleníXFluorescentní spektrometrPoužít naRoHS & WEEEAnalýza příkazůMěření tloušťky různých kovových fólií, měření tloušťky průmyslových povlaků, směrnice halogenůClElementární analýzaAnalýza složení rud, surovin, magnetických médií a polovodičů a různých syntézAnalýza složení zlata a drahých kovů.
X-fluorescenční spektrometry řady EDXHlavní vlastnosti
●Rozsah analýzy prvkůS-U

●Rozsah koncentrací analytických prvků 2ppm—100%
●Nepřetržitá stabilita celého stroje8Hodinové měřeníRSD<0.25%
● ROHS/WEEEČas detekce100-120sekundy

●Dovoz chlazení z USASi（Pin）Detektory

●Elektrické chlazeníSi（Pin）Detektor plocha krystalů15mm2Rozlišení<155eV
●Technologie plně digitálních pulzních procesorů

●Vynikající poměr vrcholů a extrémně vysoká citlivost analýzy stopy

● 50KV,50WsebeochranaX-Radiové trubky

●Technologie inteligentního přepínání kompozitních filtrů

Vlastnosti:

☆Přesná analýza chloru a olova v barvách

☆IntegraceFPzákon,AlphaMetoda koeficientů, metoda zkušenostních koeficientů

☆Bezpečné spojovací zařízení, měkká a tvrdá radiační konstrukce

☆Jednoduché ovládání jedním kliknutím

☆Inteligentní software pro automatické nastavení parametrů a výběr filtrů

☆XOchrana proti přeteplotě

☆Elektronické chlazení bez kapalného dusíku a dalších spotřebních materiálů

Technické specifikace