VIP člen
Kalibrační vzorky s ultra vysokým rozlišením 70 nm (pro AFM, SEM, Auger a FIB)
Kalibrační vzorek s ultra vysokým rozlišením 70 nm (pro AFM, SEM, Auger a FIB)
Detaily produktu
pruhové70 nmRozdálení, jednorozměrné uspořádání, přesnost do ±0,25 nmDvě třídy certifikátů a bez certifikátů. Mezera s certifikátem vyžaduje odkaz na skutečné číslo na certifikátu. Přesné holografické pruhy pro mikroskopy s ultra vysokým rozlišením (25kx až 1000kxPřesná kalibrace vodorovného směru, stejně jako přesná kalibrace nástroje na nanoměřítku atd. Vysoká stabilita a vysoká použitelnost.
Velikost křemíku:4×3×0,5 mmVýroba oxidu křemičitého (šířka páteře)35nmVysoká.35nmTento parametr není kalibrován.
Nabízíme dva modely výrobků:Model 70-1DaModel 70-1DUTCmezi nimi.Model 70-1DKalibrace vzorků,S certifikací výrobce,nevysledovatelný zdroj;Model 70-1DUTCKalibrace vzorků,Certifikace,Sledovatelný zdroj,Poskytování certifikátu (PTB, německý protějšek NIST).
Informace o objednávce:
|
Číslo zboží |
Název produktu |
Specifikace |
|
80127-1D |
Model 70-1D, Kalibrační standard, Neomontovaný |
jeden |
|
80127-1D-X |
Rovněž lze poskytnout vzorkový stůl s hřebíky; Nebo výhradněAFMna (15 mmnerezová oceldisk）； Nebo zadat vzorkovou desku |
jeden |
|
80127-1DC |
Model 70-1DUTCs certifikátem,Odmontováno |
jeden |
|
80127-1DC-X |
Rovněž lze poskytnout vzorkový stůl s hřebíky; Nebo výhradněAFMna (15 mmnerezová oceldisk）； Nebo zadat vzorkovou desku |
jeden |
Online dotaz
-
Kontakty
-
Společnost
-
Telefon
-
E-mail
-
WeChat
-
Ověřovací kód
-
Obsah zprávy
-